Optris PI 1M是一款短波红外热像仪，擅长对挑战性物体进行非接触热成像，能够准确测量热金属、钢材、陶瓷和半导体的表面温度。Optris PI 1M热成像仪特别适用于金属加工应用中的温度测量。在1微米的短波测量波长下，其发射率明显高于传统红外长波范围内的测量值。热像仪的快速传感器电子设备使其反应时间短至1毫秒，这在可视化热过程的同时实现了精确测量。该热像仪通过USB接口和模拟及数字过程接口，实现了与控制系统和制造过程的无缝集成。
--高动态CMOS探测器，分辨率高达764 x 480像素
--1微米光谱灵敏度
--宽测量范围，从450°C到1800°C，无需子范围
--高达1 kHz帧速率，适用于快速过程
--模拟和数字输出，响应时间为1毫秒
--具有线扫描功能
Optris PI 1M 是一款短波红外热像仪，融合了创新、经济实惠和高精度，特别擅长非接触式热成像测量。该热像仪在短波红外范围内运行（1M：0.85 – 1.1μm），专为捕捉精确的表面温度数据而设计，适用于热钢、铁、黄铜、铜、锡、碳、陶瓷和半导体等材料。它以广泛的高温测量范围、卓越的精确度和可定制的视场配置，满足了各行业的严格需求。
许多非光亮材料的测量对象在长波光谱范围内表现出高且相对恒定的发射率，而金属和光亮材料在长波红外波长下通常具有低发射率，导致测量结果不稳定且不可靠。Optris PI 1M 专为金属基增材制造应用而设计，并且可以选配滤波片，使其非常适合几乎所有的激光加工应用。
PI 1M 红外热像仪的光谱范围与大多数金属材料的最高发射率一致，简化了远程温度测量。根据普朗克辐射定律，短波范围内发射的红外辐射显著增多，从而减少了线性发射率问题对温度测量重复性的影响。这增强了使用 PI 1M 红外热像仪时金属材料温度测量的可靠性和准确性。因此，对于高温下光亮材料的非接触温度测量，建议尽可能使用短波红外热像仪，因为它们具有更广的温度测量范围，更适合光亮表面。PI 1M 红外热像仪在德国精心设计和制造，以满足苛刻工业应用的需求，其精度、准确性和重复性都优于长波红外热像仪，是高性能温度测量的首选。
PI 1M 红外热像仪不仅提供高分辨率的热成像能力，还能在广泛的温度范围内（450°C 至 1800°C）捕捉温度数据而无需分段测量。其出色的距离到斑点尺寸比，即使在较远的距离拍摄图像时也能确保准确的温度测量。这些技术规格使其在各种工业环境中进行精确温度分析的强大工具，提供宝贵的洞察力并促进明智的决策。
红外热像仪提供多种帧率和子图像选项，以适应不同的应用需求。在 764 x 480 像素分辨率下，它以 32 Hz 的帧率运行，确保详细成像。切换到 382 x 288 像素时，帧率提高到 80 Hz，适合清晰捕捉快速移动的物体。对于快速应用（如监控温度变化），它可以在 72 x 56 像素分辨率下以 1 kHz 的帧率运行。
此外，热像仪支持 764 x 8 像素的宽子图像模式，在 1 kHz 的帧率下，特别适合于线扫描应用。这种多功能性使其能够精确监控连续线上的温度，非常适合各种工业和研究应用。
红外热像仪通过 USB 接口无缝连接到计算机。此外，Optris PI 1M 通过 PIX Connect 软件许可证提供高级软件功能，如线扫描和图像合并。这款软件包对那些希望将经济实惠的红外热像仪与强大的热图像处理和温度数据收集平台相结合的研究人员和工艺工程师来说是无价的。开发工具包也可供集成商开发特定应用的软件解决方案。
此外，PI 1M 红外热像仪兼容多种专为严苛环境设计的配件。这些配件包括延长热像仪操作温度范围至 315°C 的水冷外壳。此外，还提供空气净化装置以保持镜头清洁，确保即使在灰尘环境中也能连续进行温度测量。
配合这些功能的还有机械安装配件、电气接口和连接电缆，提供全面且具有吸引力价格的兼容配件组合。这种兼容性增强了 PI 1M 的多功能性和适应性，使其能够轻松地集成到各种设置和应用中。
